2017年04月08日

Leeb253涂层测厚仪,镀层测厚仪

LEEB253涂层测厚仪测量范围: 0-6000um,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,膜厚计,淄博测厚仪。Leeb253涂层测厚仪,镀层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。

  • 产品参数、性能指标、使用说明、安装调试、用途
  • 产品价格、生产维修、校正校准、应用范围、产地

Leeb253涂层测厚仪

leeb253磁性测厚仪/漆膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量;广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

符合以下标准:

GB/T 49561985 磁性方法;

JJG 818-95 《磁阻法测厚仪》;

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。

leeb253涂层测厚仪功能与特点

采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性;

覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)

可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

具有米、英制转换功能;

具有欠压指示功能;

操作过程有蜂鸣声提示;

具有错误提示功能;

具有自动关机功能。

leeb253涂层测厚仪技术参数

测头类型:F

测量原理:磁感应;

测量范围: 0-6000um

低限分辨力:1μm(10um以下为0.1um)

探头连接方式:一体化;

示值误差:

一点校准(um):±[3%H+1]

两点校准(um):±[1%~3%H+1]

测量条件:

嘴小曲率半径(mm):凸1.5 | 9

基体嘴小面积的直径(mm):ф7

嘴小临界厚度(mm)0.5

温湿度:0~40 | 20%RH90%RH

工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

上下限设置:无;

关机方式:自动;

电源:二节3.6V镍镉电池;

外形尺寸:150×55.5×23mm

重量:150g

 

Leeb253涂层测厚仪标准配置

涂层测厚仪

leeb253

标准配置

·                               leeb253主机;

·                               铁基体;

·                               标准片一套;

·                               充电器;

·                               使用说明书;

·                               合格证书;

·                               包装箱。

涂层测厚仪

leeb253

可选配

·                               铁基体;

·                               标准片。


 

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